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課程目錄: 嵌入式硬件測(cè)試技術(shù)課程培訓(xùn)
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課程大綱:

    嵌入式硬件測(cè)試技術(shù)課程培訓(xùn)

 

 

 

1 硬件測(cè)試概述
1.1 硬件測(cè)試的作用
1.2 硬件測(cè)試與硬件研發(fā)流程
1.3 硬件測(cè)試相關(guān)概念
(1) 時(shí)域【上升沿、保持、下降沿】
(2) 頻域【帶寬、頻率、功率譜】
1.4 測(cè)試方法論
(1) 白盒測(cè)試
(2) 黑盒測(cè)試
(3) 軟硬件協(xié)同測(cè)試
(4) 壓力測(cè)試
1.5 可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT)
2 硬件測(cè)試管理
2.1 測(cè)試需求分析
【測(cè)試內(nèi)容從哪里來(lái)?怎么進(jìn)行測(cè)試需求分析?】
2.2 測(cè)試規(guī)劃及實(shí)施
【如何編寫(xiě)測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試方案、測(cè)試用例,并有效的實(shí)施?】
2.3 測(cè)試評(píng)價(jià)及反饋
【測(cè)試如何指導(dǎo)研發(fā)?如何體現(xiàn)測(cè)試的價(jià)值?】
2.4 硬件測(cè)試平臺(tái)建設(shè)
【介紹測(cè)試平臺(tái)搭建、測(cè)試規(guī)范、數(shù)據(jù)管理、bug管理】
通用性的單項(xiàng)參數(shù),形成測(cè)試規(guī)范
如溫度測(cè)試規(guī)范、功耗測(cè)試規(guī)范
3 硬件測(cè)試技術(shù)及案例
3.1 關(guān)鍵元器件的測(cè)試
【介紹關(guān)鍵器件的性能測(cè)試,如晶體、晶振等】
3.2 關(guān)鍵信號(hào)質(zhì)量測(cè)試
(1) 常見(jiàn)信號(hào)波形問(wèn)題及典型案例
【介紹常見(jiàn)信號(hào)波形問(wèn)題,如過(guò)沖、毛刺、振鈴、紋波、抖動(dòng)、串?dāng)_等問(wèn)題】
(2) 異常信號(hào)的產(chǎn)生機(jī)理、危害及消除方法
【對(duì)異常信號(hào)的產(chǎn)生機(jī)理進(jìn)行分析,及異常信號(hào)的優(yōu)化方法】
(3) 信號(hào)測(cè)試的方法
(4) 信號(hào)完整性測(cè)試
(5) 時(shí)鐘源信號(hào)測(cè)試
(6) 時(shí)鐘轉(zhuǎn)換電路測(cè)試
3.3 電源質(zhì)量測(cè)試
【重點(diǎn)介紹測(cè)試的內(nèi)容、方法與步驟】
(1) 電源測(cè)試的主要內(nèi)容、概念
【主要包括紋波、噪聲、帶載能力、效率、功率因數(shù)、浪涌電流等】
(2) 各個(gè)參數(shù)的測(cè)試方法
【介紹各個(gè)參數(shù)的詳細(xì)測(cè)試方法】
3.4 信號(hào)時(shí)序測(cè)試
【重點(diǎn)介紹測(cè)試的內(nèi)容、方法與步驟及結(jié)果分析】
(1) 信號(hào)時(shí)序測(cè)試概述
(2) 測(cè)試條件
(3) 覆蓋范圍
(4) 測(cè)試步驟
(5) 結(jié)果分析
(6) 案例介紹
3.5 典型單元電路測(cè)試
【重點(diǎn)介紹測(cè)試的目的、內(nèi)容、方法與步驟】
(1) 單元電路測(cè)試的方法、條件及故障注入
(2) 串口測(cè)試
(3) 常用通信接口的測(cè)試
(4) 濾波電路測(cè)試
(5) 復(fù)位、WDT測(cè)試
(6) 模擬鎖相環(huán)測(cè)試
(7) FPGA接口測(cè)試
(8) 電池充放電測(cè)試
(9) 保護(hù)電路測(cè)試
3.6 溫升測(cè)試
【關(guān)鍵器件溫升測(cè)試的方法及改進(jìn)】
3.7 單板通用功能測(cè)試
【重點(diǎn)介紹測(cè)試的目的、方法與步驟】
(1) 電源及外接口上電時(shí)序測(cè)試
(2) 帶電插拔測(cè)試
(3) 靜態(tài)與動(dòng)態(tài)功耗測(cè)試
(4) 電路安全性測(cè)試
(5) 冗余測(cè)試
3.8 環(huán)境試驗(yàn)及其注意事項(xiàng)
【重點(diǎn)介紹環(huán)境試驗(yàn)(如溫度、濕度)的注意事項(xiàng)】
3.9 型式試驗(yàn)及其注意事項(xiàng)
【重點(diǎn)介紹常見(jiàn)硬件型式試驗(yàn)中的注意事項(xiàng)】
(1) ESD
(2) 浪涌抗擾度
(3) 脈沖群抗擾度
(4) 輻射
4 常用硬件測(cè)試儀器使用
【重點(diǎn)介紹常用測(cè)試儀器在硬件測(cè)試中的使用及注意事項(xiàng)】
4.1 示波器
4.2 頻譜儀
4.3 邏輯分析儀
4.4 網(wǎng)絡(luò)分析儀