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曙海教學(xué)優(yōu)勢(shì)
本課程面向企事業(yè)項(xiàng)目實(shí)際需要,秉承二十一年積累的教學(xué)品質(zhì)，DFT可測(cè)試性設(shè)計(jì)培訓(xùn)課程-以項(xiàng)目實(shí)現(xiàn)為導(dǎo)向,老師將會(huì)與您分享設(shè)計(jì)的全流程以及工具的綜合使用經(jīng)驗(yàn)、技巧。線上/線下/上門皆可,DFT可測(cè)試性設(shè)計(jì)培訓(xùn)課程-專家,課程可定制,熱線:4008699035。
曙海的課程培養(yǎng)了大批受企業(yè)歡迎的工程師。曙海的課程在業(yè)內(nèi)有著響亮的知名度。大批企業(yè)和曙海
建立了良好的合作關(guān)系,合作企業(yè)30萬+。
DFT可測(cè)試性設(shè)計(jì)培訓(xùn)課程
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培訓(xùn)大綱
第一階段
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課程大綱：
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1. VLSI test
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2. DFT要點(diǎn)
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3. DFT設(shè)計(jì)流程
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4. DFT設(shè)計(jì)技巧
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5. Fault model
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6. ATPG
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7. ATPG技巧
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8. Fault simulation
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9. Fault 要點(diǎn)
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10. Fault 技巧
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11. Fault 流程
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12. Scan
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13. 掃描技巧
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14. 掃描要點(diǎn)
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15. 掃描流程
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16. JTAG
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17. Logic BIST
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18. Test compression
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19. Memory test
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20. Memory 測(cè)試要點(diǎn)
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21. Memory測(cè)試流程
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22. Memory測(cè)試技巧
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23. scan chain/ BSD/BIST 概念與設(shè)計(jì)方法
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24.DFT 的測(cè)試原理/測(cè)試方法( D算法 向量產(chǎn)生與仿真)
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25.BSD 基本單元和JTAG測(cè)試
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第二階段 SCAN synthesis
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1.Scan概念及方法介紹
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2.Scan實(shí)現(xiàn)流程及問題解決
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3.Scan DRC violation講解及解決方法
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4.Scan技巧
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第三階段 ATPG
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1.ATPG介紹
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2.Fault models
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3.Fault simulation
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4.ATPG DRC Violation的解決方法
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5.ATPG patten generation
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6.測(cè)試壓縮及方法
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7.ATPG patten驗(yàn)證
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8.ATPG技巧
第四階段 JTAG/1500
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1.JTAG方法
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2.JTAG及其擴(kuò)展應(yīng)用
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3.JTAG實(shí)現(xiàn)及驗(yàn)證
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4.JTAG技巧
第五階段 BIST/MBIST
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1.BIST/MBIST 方法
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2.Memory類型介紹
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3.BIST solution
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4.MBIST算法
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5.MBIST驗(yàn)證
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6.BIST/MBIST 技巧
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